BGA的全稱是Ball Grid Array(球柵陣列結(jié)構(gòu)的PCB),是一種大型組件的引腳封裝方式,與 QFP的四面引腳相似,都是利用SMT錫膏焊接與電路板相連。其不同處是羅列在四周的"一度空間"單排式引腳,如鷗翼形伸腳、平伸腳、或縮回腹底的J型腳等;改變成腹底全面數(shù)組或局部數(shù)組,采行二度空間面積性的焊錫球腳分布,做為芯片封裝體對(duì)電路板的焊接互連工具。它具有封裝面積少,功能加大,引腳數(shù)目增多,可靠性高,電性能好,整體成本低等特點(diǎn)。
雖然BGA器件有諸多方面的優(yōu)點(diǎn),但仍存在著無(wú)法改變的不足之處:即BGA器件在焊接完成之后,由于其焊點(diǎn)全部在器件本體腹底之下,因此既無(wú)法采用傳統(tǒng)的目測(cè)方法觀測(cè)檢驗(yàn)全部焊點(diǎn)的焊接質(zhì)量,也不能應(yīng)用AOI(自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn))設(shè)備對(duì)焊點(diǎn)外觀做質(zhì)量評(píng)判,目前通用的方式均采用X-RAY檢驗(yàn)設(shè)備對(duì)BGA器件焊點(diǎn)的物理結(jié)構(gòu)進(jìn)行檢驗(yàn)。
X-RAY檢驗(yàn)原理
X-ray檢驗(yàn)設(shè)備是基于X射線的影像原理,由X射線發(fā)生裝置發(fā)出X射線,對(duì)被檢驗(yàn)印制板組及BGA器件進(jìn)行照射,利用X射線不能穿透錫、鉛等密度大且厚的物質(zhì),可形成深色影像,而會(huì)輕易穿透印制板及塑料封裝等密度小且薄的物質(zhì),不會(huì)形成影像的現(xiàn)象,實(shí)現(xiàn)對(duì)BGA器件焊接焊點(diǎn)的質(zhì)量檢驗(yàn)。X-RAY檢測(cè)原理如下圖所示:
焊點(diǎn)缺陷
a. 焊點(diǎn)缺陷種類(lèi)
BGA焊點(diǎn)缺陷主要有焊料橋連、焊錫珠、空洞、錯(cuò)位、開(kāi)路和焊料球丟失、焊接連接處破裂、虛焊等。
b.焊料橋連
由于焊料橋連最終導(dǎo)致的結(jié)果就是電氣短路,因此BGA器件焊接后,各相鄰焊料球之間應(yīng)無(wú)焊料橋連。這種缺陷在采用X-RAY檢驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)時(shí)比較明顯,在影像區(qū)內(nèi)可見(jiàn)焊料球與焊料球之間呈現(xiàn)連續(xù)的連接,容易觀察和判斷。
c.焊錫珠
焊錫珠是表面貼裝過(guò)程中的主要缺陷之一,造成焊錫珠的原因有很多。這種缺陷在X-RAY影像區(qū)內(nèi)也易于識(shí)別,應(yīng)用X-RAY檢驗(yàn)設(shè)備觀察測(cè)量焊錫珠時(shí),應(yīng)主要注意其尺寸要求和位置要求,并且不違反最小電氣間隙要求。
d.空洞
空洞在BGA器件焊接后是最常見(jiàn)的,因?yàn)橥S多BGA器件本身的焊料球就可能帶有空洞或氣孔,在回流焊接過(guò)程中,回流曲線設(shè)置不合理則更容易產(chǎn)生空洞。GJB 4907-2003與IPC-A-610E標(biāo)準(zhǔn)均對(duì)空洞做出了評(píng)判準(zhǔn)則,但評(píng)判尺度存在差異。其中GJB 4907-2003中規(guī)定焊點(diǎn)空洞應(yīng)不大于焊點(diǎn)體積的15%,而IPC-A-610E中規(guī)定X-RAY影像區(qū)內(nèi)任何焊料球的空洞應(yīng)不大于25%。
e.虛焊
一般虛焊都是由于回流焊接過(guò)程不充分造成的。在回流焊接過(guò)程中,焊料球與錫膏沒(méi)有形成良好地熔融,無(wú)法形成潤(rùn)濕良好的共晶體。虛焊是一種不容忽視的缺陷,容易造成器件脫落,影響器件的電氣性能。虛焊缺陷也必須通過(guò)旋轉(zhuǎn)X射線角度進(jìn)行檢驗(yàn),從而及時(shí)采取有效措施避免它的發(fā)生。
BGA檢測(cè)圖像
隨著B(niǎo)GA封裝器件的出現(xiàn)并大量進(jìn)入市場(chǎng),針對(duì)高封裝密度,焊點(diǎn)不可見(jiàn)等特點(diǎn),電子廠商為控制BGAS的焊接質(zhì)量,需充分應(yīng)用高科技工具,手段,努力掌握和大力提提高檢測(cè)技術(shù)水平,使用新的工藝方法能有與之相適應(yīng),相匹配的檢測(cè)手段。只有這樣,生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量問(wèn)題才能得到有效控制。而且,把檢測(cè)過(guò)程中反映生產(chǎn)更加順暢,減少返修工作量。
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